CRAIC 20/30 PV™全光譜顯微分光光度計

20/30 PV™ UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV™可為用戶定制(zhi)紫(zi)外(wai)-可(ke)見-近紅(hong)外分光(guang)光(guang)譜儀

創(chuang)新(xin)性的(de)20/30 PV™顯微(wei)(wei)分光(guang)(guang)光(guang)(guang)度(du)(du)計是(shi)CRAIC科技(ji)公(gong)司強大(da)的(de)儀(yi)器。它(ta)(ta)為您的(de)需求打造，該(gai)定(ding)做儀(yi)器結合(he)了(le)光(guang)(guang)學、光(guang)(guang)譜學和(he)軟(ruan)件領域(yu)里 的(de)技(ji)術進步，能夠為您帶來*的(de)速(su)度(du)(du)和(he)性能體(ti)驗。CRAIC儀(yi)器*是(shi)因(yin)為它(ta)(ta)的(de)簡單易用(yong)，而這種易用(yong)性在這里甚(shen)至得到了(le)改善，使得該(gai)設(she)備成為先進的(de)紫外-可見-近(jin)紅外光(guang)(guang)顯微(wei)(wei)分光(guang)(guang)光(guang)(guang)度(du)(du)計。

20/30 PV™顯微(wei)分光(guang)光(guang)度(du)(du)計結(jie)合了(le) 的(de)科技，允(yun)許用戶測量直徑(jing)小(xiao)于1微(wei)米樣品區域的(de)紫(zi)外-可(ke)見(jian)-近(jin)紅(hong)外光(guang)范圍內的(de)透射比、吸光(guang)度(du)(du)、反射率(lv)、釋放強(qiang)度(du)(du)和熒光(guang)光(guang)譜，即使(shi)是(shi)薄(bo)膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra™（顯微(wei)光(guang)譜）的(de)同(tong)時，可(ke)以(yi)觀察到樣品深紫(zi)色、可(ke)見(jian)光(guang)和近(jin)紅(hong)外光(guang)處高分辨率(lv)的(de)數(shu)字圖像。易(yi)用的(de)特(te)點也附加到了(le)20/30 PV™強(qiang)大的(de)系(xi)統中，包(bao)括了(le)軟(ruan)件自動(dong)化(hua)儀器人體工程(cheng)學的(de)所(suo)有(you)進步(bu)。

20/30 PV™ 顯(xian)微分(fen)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)度(du)計(ji)簡單(dan)易(yi)用，測量(liang)方法(fa)為(wei)非破壞(huai)性并且得(de)到的光(guang)(guang)(guang)譜數(shu)(shu)據顯(xian)微分(fen)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)度(du)計(ji)，可(ke)(ke)以(yi)無縫從深紫光(guang)(guang)(guang)到近紅(hong)(hong)外光(guang)(guang)(guang)區(qu)域獲得(de)顯(xian)微樣品的光(guang)(guang)(guang)譜和(he)圖(tu)像(xiang)(xiang)。它可(ke)(ke)以(yi)在吸光(guang)(guang)(guang)度(du)、反射率(lv)和(he)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)性中獲得(de) microspectra™（顯(xian)微光(guang)(guang)(guang)譜）和(he)圖(tu)像(xiang)(xiang)。與(yu)顯(xian)微分(fen)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)度(du)計(ji)一起提(ti)供(gong)的還有用眼觀(guan)察樣品的 DirecVu™和(he)高分(fen)辨率(lv)紫外-可(ke)(ke)見-近紅(hong)(hong)外光(guang)(guang)(guang)區(qu)域數(shu)(shu)字(zi)成像(xiang)(xiang)系統(tong)。

主要特點

紫外(wai)-可見(jian)-近紅(hong)外(wai)光顯微分光光譜儀

來自 的前(qian)沿顯微分光計(ji)

一個*整合(he)的(de)(de)顯(xian)微分光(guang)計裝置，描述從(cong)深(shen)紫外(wai)光(guang)到(dao)可(ke)見光(guang)到(dao)近紅外(wai)光(guang)范圍的(de)(de)光(guang)譜。同時(shi)直(zhi)接(jie)獲得樣品空隙的(de)(de)圖像，而且樣品的(de)(de)測量更快、更精(jing)確。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技(ji)的(de)特點(dian)，甚至能夠讓(rang)您測(ce)量次微(wei)米級樣品(pin)的(de)透(tou)射(she)比、反(fan)射(she)率、偏振(zhen)和熒光光譜(pu)。

CRAIC科技也是(shi)NIST可追(zhui)溯的顯(xian)微分光計標(biao)準的來源(yuan)。

拉曼(man)顯微分光(guang)光(guang)譜(pu)儀

靈活(huo)的(de)拉曼顯微分(fen)光光譜儀

當20/30 PV™裝上(shang)CRAIC阿波羅™拉(la)曼(man)分(fen)光(guang)儀模(mo)塊(kuai)后，它能(neng)(neng)像拉(la)曼(man)、共振拉(la)曼(man)以及其他測量顯(xian)微樣(yang)品的儀器一(yi)樣(yang)工(gong)作(zuo)。這些模(mo)塊(kuai)包括(kuo)激光(guang)、拉(la)曼(man)分(fen)光(guang)計和(he)界面光(guang)學，能(neng)(neng)讓您收(shou)集(ji)到樣(yang)品高(gao)質量的拉(la)曼(man)光(guang)譜(pu)。

熒光性

高靈敏度發射顯微分(fen)光計(ji)和成像系統

20/30 PV™可以被(bei)裝配成(cheng)測(ce)量顯微(wei)樣品熒光和冷光光譜(pu)以及圖像(xiang)的(de)儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科(ke)技的(de)特點，能夠(gou)激發從深紫外(wai)(wai)到近紅外(wai)(wai)的(de)光，能測(ce)出(chu)相同范圍的(de)放射，它對于材料(liao)科(ke)學(xue)、生物學(xue)、地(di)質學(xue)等學(xue)科(ke)的(de)顯微(wei)熒光測(ce)定法來說(shuo)是一款強大的(de)工具。

偏振

紫外-可見-近紅外(wai)光顯微分光計和(he)成像系統

20/30 PV™甚至(zhi)可以被裝配(pei)成獲得偏(pian)振(zhen)光(guang)(guang)譜和(he)圖像的(de)(de)(de)儀器(qi)。20/30 PV™顯微分光(guang)(guang)計擁有(you)偏(pian)振(zhen)Lightblades科技的(de)(de)(de)特(te)點和(he)從(cong)紫外光(guang)(guang)到近紅外光(guang)(guang)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)譜范(fan)圍(wei)，它的(de)(de)(de)性能是(shi)其他(ta)儀器(qi)無法(fa)達到的(de)(de)(de)。用這個精細的(de)(de)(de)系統(tong)您(nin)可以容易且迅速地(di)獲得雙折射和(he)其他(ta)有(you)偏(pian)振(zhen)特(te)點的(de)(de)(de)樣(yang)品(pin)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)譜和(he)圖像。

光(guang)譜表面(mian)成像

光(guang)譜表(biao)面成像(xiang)整合了為自動(dong)化光(guang)譜分析設(she)計(ji)的(de)軟硬件和帶有顯微空間(jian)解(jie)析度的(de)樣品3D成像(xiang)技術。樣品吸光(guang)度、透(tou)射(she)比、反射(she)率(lv)、熒光(guang)性、放射(she)性和拉曼光(guang)譜這(zhe)些數據的(de)3D地(di)圖也許能夠(gou)生成。

紫外(wai)-可見(jian)-近紅外(wai)光顯(xian)微(wei)光度(du)計

從紫外光(guang)到近紅(hong)外光(guang)的出眾圖(tu)像質量(liang)

20/30 PV™ 包含帶有研究級光學器件(jian)的紫(zi)外(wai)-可(ke)見-近紅外(wai)光顯微(wei)(wei)鏡，非常*。20/30 PV™ 擁有精細(xi)的成(cheng)像軟件(jian)，帶有彩(cai)色、紫(zi)外(wai)線和近紅外(wai)光區(qu)域的高分辨數碼成(cheng)像特點(dian)。這允許您簡(jian)單迅速地通過透射比、反射率、偏振和熒光顯微(wei)(wei)鏡來實時獲(huo)得樣品(pin)的圖像。

應用

l 半導(dao)體薄膜厚度（測量）

l  MEMS 設備

l  表面等離子體共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜質(zhi)加工檢測(ce)

l  蛋白質晶體

l  法(fa)庭(ting)科學

l  藥物化學

l  可(ke)疑文(wen)件

l  OLED

l  平板(ban)彩色面罩

l  組合化學